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深圳市易捷测试技术有限公司,(品牌GBITEST),是一家致力于提供半导体晶圆在片测试系统的高科技服务公司。主要业务包括各式探针台系统,自主研发半导体测试软件,探针台升级改造服务等,可满足实验室研发和晶圆厂量产的各式需求。十几年来,公司一直专注于半导体测试领域,积累了丰富的实操经验,赢得了行业口碑,专业的系统集成方案广泛应用于:WAT/CP测试,I-V/C-V测试,RF/mmW测试,高压/大电流测试,MEMS、高低温测试、光电器件测试,硅光测试、晶圆级失效分析(包括ESD测试)、封装检测等领域。公司现已与多家国内外知名半导体测试设备厂商长期合作,携手美国Keysight、美国Maury、日本TSK、台湾MPI、日本HANWA等优秀厂商,为用户提供半导体测试系统解决方案。
主营产品
CDM测试机HEDC5000R、失效分析系统、loadpull、TLP测试仪HED-T5000(VF)、ESD测试机HCE-5000、辐照探针台、tuner+MT系列毫米波调谐器、DAGE4000推拉力测试机、信号分析仪UXA X系列、负载牵引MT2000、Helios DualBeam™扫描电子显微镜、PNA-X网络分析仪、Spectra S/TEM扫描透射电子显微镜新、捷变信号发生器、网络分析仪、全自动晶圆2D/3D AOI光学检验机等产品。